可對(duì)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)PECVD工藝后所鍍氮化硅膜層的膜層厚度進(jìn)行測(cè)試，可給出膜厚分布的MAP圖。也可對(duì)所鍍膜層的光學(xué)折射率n值進(jìn)行測(cè)量。

對(duì)電池片采樣可打每秒鐘4000個(gè)測(cè)試樣點(diǎn)。

產(chǎn)品詳細(xì)資料見(jiàn)公司網(wǎng)站資料下載

公司網(wǎng)站：www.kingdom-tech.com.cn